SIMS pentru analiza țintelor de izotopi medicali îmbogățiți
Hiden Analytical a publicat un articol tehnic care analizează modul în care Spectrometria de Masă prin Ioni Secundari (SIMS) poate susține analiza raportului de izotopi și caracterizarea în profunzime a materialelor țintă îmbogățite utilizate în izotopii medicali.
Imaginea 3D SIMS a Yb-174: imagine SIMS rezolvată pe adâncime a unei linii de 200 µm lățime de Yb-174 depusă pe un substrat din oțel inoxidabil. Suprafața măsurată este de 800 × 800 µm, cu o adâncime totală analizată de 1 µm. Credit imagine: Hiden Analytical
Articolul explică importanța țintelor de izotopi îmbogățiți în cercetarea producției de radioizotopi medicali și modul în care SIMS poate ajuta cercetătorii să evalueze distribuția izotopilor, compoziția de suprafață, contaminarea și variațiile de adâncime în materiale solide rare sau de mare valoare.
Un aspect central este capacitatea SIMS de a păstra informațiile spațiale și de adâncime. Spre deosebire de analiza izotopilor în vrac, care oferă o compoziție mediată, SIMS poate arăta cum variază distribuția izotopilor pe o suprafață, printr-un strat depus sau într-un profil de adâncime.
Articolul subliniază, de asemenea, AutoSIMS de la Hiden Analytical, care oferă o metodă compactă și automatizată pentru analiza SIMS de rutină în laboratoarele care lucrează cu straturi depuse, filme subțiri și materiale țintă de izotopi îmbogățiți.
Țintele de izotopi îmbogățiți sunt adesea valoroase, limitate ca cantitate și foarte specifice în aplicare. SIMS oferă o modalitate directă de a examina distribuția izotopilor în materialul solid, păstrând totodată informațiile spațiale și de adâncime care pot fi pierdute în măsurătorile în vrac.
Graham Cooke, Principal Scientist, Hiden Analytical
